
グループ: Danaher

カタログの抜粋

DM8000 M DM12000 M See More, Detect Faster – High-throughput Inspection Syst
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The New Class of Inspection Systems Inspection, process control and defect analysis of wafers or LCDs and TFTs has to be fast, accurate and ergonomic. Leica Microsystems has many years of experience in developing inspection systems for the semiconductor industry. Using this expertise, we have developed a totally new line of products for the inspection of 8 and 12 inch wafers. The Leica DM8000 M and Leica DM12000 M optical inspection systems provide an innovative yet cost-effective system solution for mastering present and future inspection challenges with confidence. More image information...
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Larger field for faster inspection The Leica DM8000 M and the Leica DM12000 M feature an integrated macro mode, giving you four times the field of view of conventional scanning objectives. Seeing more means faster throughput. Top resolution from every angle The new Oblique UV (OUV) mode combines oblique illumination with UV light, which enables you to view a sample in top resolution from any angle - and enhances the accuracy of the inspection results. Higher quality due to ergonomic design An ergonomic design enables users to work in comfort, enhancing their performance and ultimately...
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From Macro to Micro – Defects Don’t Stand a Chance See four times more To detect macro defects, the Leica DM8000 M and DM12000 M have a micro/macro mode for rapid scanning of large components. The macro magnification captures an object field of approximately 40 mm – that’s almost four times more than with conventional scanning objectives. The entire scan area can be accurately scanned for possible defects in a fraction of the time. New contrasting techniques for ultra-high resolution Oblique illumination is an indispensable tool for examining sides, edges or chipping, whereas UV light is...
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For the Demanding Production Environment Keep the environment clean LED illumination is integrated with the Leica DM8000 M/ DM12000 M. You’ll notice the effect of this smart design on your working environment: Without a lamphousing to get in the way, there is an optimal airflow around the microscope. A clean solution for the cleanroom. The powerful LEDs have an extremely long lifetime yet extremely low power consumption. There is no need for lamp change, and there are no downtimes for servicing. Help the environment while saving money and increasing productivity at the same time. The...
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Perfect Ergonomics and Convenience Ergonomics means higher quality It has been proven that ergonomically-designed workplaces help increase productivity and enhance work quality. Adaptable to any user with its individually adjustable Ergotube and height-adjustable focus knobs, the Leica DM8000 M/DM12000 M is ideal for routine inspection and other applications. Easy to use, even in the cleanroom Designed to the highest ergonomic standards, the controls are specifically intended for the more difficult conditions in the cleanroom. All controls are easy to reach, so that users don’t have to take...
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Can be delivered in cleanroom packaging (two-layer packaging) on request.
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LEICA and the Leica Logo are registered trademarks of Leica Microsystems IR GmbH. Copyright © by Leica Microsystems CMS GmbH, Wetzlar, Germany, 2020 · Subject to modifications Leica Microsystems CMS GmbH | Ernst-Leitz-Strasse 17–37 | D-35578 Wetzlar (Germany)
カタログの8ページ目を開くLeica Microsystems/ライカのすべてのカタログと技術パンフレット
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M844 F40/F20
16 ページ
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EnFocus
12 ページ
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M822 F40 / F20
12 ページ
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M320 for ENT
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ARveo 8
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M320 Dental Brochure
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Emspira 3
4 ページ
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Exalta
2 ページ
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FLEXACAM C1
4 ページ
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EM KMR3
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EM UC7
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EM TRIM2
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EM RAPID
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EM ICE
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EM TXP
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EM RES102
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EM TIC 3X
16 ページ
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TL4000 BFDF
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F12 I floor stand
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XL Stand
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KL300 LED
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LED1000
16 ページ
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LED3000 BLI
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LED5000 NVI
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LED3000 NVI
20 ページ
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LED3000 DI
20 ページ
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LED5000 HDI
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LED5000 CXI
20 ページ
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LED2500
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LED5000 MCI
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LED3000 MCI
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LED5000 SLI
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LED3000 SLI
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LED2000
8 ページ
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LED5000 RL
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LED3000 RL
20 ページ
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MZ10 F
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M165 FC
16 ページ
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M205 FCA, M205 FA
16 ページ
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A60 F, A60 S
16 ページ
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M50, M60, M80
12 ページ
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DVM6
16 ページ
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HCS A
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TCS SPE
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DFC450 C
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DFC295
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MC170 HD
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DFC3000 G
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DMC4500
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ICC50 W, ICC50 E
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DFC9000
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IC90 E
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DMC6200
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DMC5400
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SFL7000
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EL6000
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SFL100
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SFL4000
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DMi8 S Platform
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DMi8 M / C / A
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DMi1
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FS M
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FS C
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DM3000, DM3000 LED
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DM750 M
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DM750
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DM500
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DM300
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DM12000 M
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DM1750 M
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DM4 M, DM6 M
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DM4 P, DM2700 P, DM750 P
12 ページ
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DM2000, DM2000 LED
16 ページ
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DM1000
16 ページ
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DCM8
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DM1000 LED
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DM2500
16 ページ
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DM4 B & DM6 B
16 ページ
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DM6 M LIBS
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S9 Series
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Z6 APO
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Z16 APO
16 ページ
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M620 F20
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M220 F12
8 ページ
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Proveo 8
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M525 F20
12 ページ
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PROvido
8 ページ
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Leica M530 OHX
16 ページ
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Leica TCS SP8 STED 3X
24 ページ
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Leica TCS SP8 Objective
24 ページ
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Leica AOBS
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Leica DMC2900
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Leica DMshare
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Leica_SL801-Flyer
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DM2700 M
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Leica_SR_GSD-Brochure
10 ページ
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Leica_AF6000-Brochure
16 ページ
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Leica TCS SP8-Flyer
2 ページ
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Leica TCS SP8-Brochure
40 ページ